| Microscope | JEOL JSM-6010 PLUS / LA |
| Fonctionnalités | •Etudes topographiques (électrons secondaires)
•Etudes topographiques et contraste chimique (électrons rétrodiffusés) •Microanalyse X et cartographie (rayons X) •Etudes topographiques et contraste chimique des non conducteurs (pression variable) |
Applications: Analyse de la microstructure et des phases, fractographie, composition chimique
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