Microscope électronique à balayage

Microscope  JEOL JSM-6010 PLUS / LA

Fonctionnalités : 

• Études  topographiques (électrons secondaires) 
• Études  topographiques et contraste chimique (électrons rétrodiffusés) 
• Microanalyse X et cartographie (rayons X) 
• Études topographiques et contraste chimique des non conducteurs (pression variable) 

Applications

Analyse de la microstructure et des phases, fractographie, composition chimique.